HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。
采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术,实现了超快的数据采集和成像速度,同时保证了纳米级分辨率。
面向应用场景的自动化操作流程设计,使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。



HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。
采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术,实现了超快的数据采集和成像速度,同时保证了纳米级分辨率。
面向应用场景的自动化操作流程设计,使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。

驻点时间10 ns/pixel,
最快采集速度2*100 M pixel/s

SE/BSE信号自由切换,
信号混合比例可调

可实现高分辨大场模式,
4 nm像素点最大视场达64*64 um²

降低入射电子落点电压,
同时提高回收电子的收集效率

物镜磁场浸没样品
实现了低像差高分辨率


| 指标 | HEM6000 | 常规场发射扫描电镜 |
| 像素尺寸(单张) | 12288*12288 | |
| 像素点时间 | 40 ns(点/行/帧平均数:2/2/1) | 800 ns |
| 像素大小 | 16 nm | |
| 拍摄总面积 | 2 .62mm² | |
|
拍摄总时间 |
21分34秒 | >190分 |
| 关键参数 | |
| 分辨率 | 1.3nm@3 kV,SE ; 1.5nm@1 kV,SE |
| 1.9nm@ 3 kV, BSE; 2.3nm@ 1 kV, BSE | |
| 0.9nm@30kV,STEM | |
| 加速电压 | 100 V~6 kV(减速模式) |
| 6 kV~30 kV(非减速模式) | |
| 放大倍率 | 66~1,000,000x |
| 电子枪类型 | 高亮度肖特基场发射电子枪 |
| 物镜类型 | 浸没式电磁复合物镜 |
| 偏转系统 | 静电偏转器 |
| 样品装载系统 | ||
| 真空系统 | 全自动控制,无油真空系统 | |
| 样品监控 | 样品仓监控水平摄像头; 换样仓监控垂直摄像头 | |
| 样品最大尺寸 | 直径4英寸 | |
| 样品台 | 类型 | 电机驱动3轴样品台(*可选配压电驱动样品台) |
| 行程 |
X、Y轴:110mm; Z轴:16mm; |
|
| 重复定位精度 |
X轴:±0.6μm; Y轴:±0.3μm; |
|
| 换样方式 | 全自动控制 | |
| 换样时间 | <15 min | |
| 换样仓清洗 | 全自动控制等离子清洗系统 | |
| 驻点时间 | 10 ns/pixel | |
| 图像采集速度 | 2*100 M pixel/s | |
| 图像大小 | 24K*24K | |
| 探测器和扩展 | |
| 标配 | 镜筒内混合电子探测器 |
| 选配 | 低角度背散射电子探测器 |
| 镜筒内高角度背散射电子探测器 | |
|
明场透射电子探测器 |
|
| 高角/中角/底角暗场透射电子探测器 | |
| 压电驱动样品台 | |
| 高分辨大场模式 | |
| 样品仓等离子清洗系统 | |
| 6英寸样品装载系统 | |
| 主动减震台 | |
| AI降噪;大图拼接;三维重构 | |
| 软件 | |
| 语言 | 中文 |
| 操作系统 | Windows |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航 |
| 自动功能 | 自动样品识别、自动选区拍摄 |
| 自动亮度对比度、自动聚焦 | |
| 自动像散 | |
