【国仪FIB秀】国仪量子双束电镜成功制备7nm芯片样品

【国仪FIB秀】国仪量子双束电镜成功制备7nm芯片样品

发布时间：2025-07-02 17:45:30 浏览量：1895

国仪量子双束电镜（DB550）使用倒切工艺

成功制备7nm芯片样品

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