超高分辨场发射扫描电子显微镜
SEM5000X
 

SEM5000X是一款超高分辨率场发射扫描电镜,电子光学镜筒设计优化,综合像差降低了 30%,从而达到了0.6 nm@15 kv和 1.0 nm@1 kv的超高分辨率。超高分辨率和高稳定性,可在先进纳米结构和纳米材料的研究、高端芯片半导体的研发制造等领域发挥其性能优势。

突破性的分辨能力
机械中心样品台
*双减速模式(Duo-Dec)
*快速换样仓
(最大8寸)
高稳定性
丰富的扩展能力
产品优势
超高分辨率成像,达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV
样品台减速和高压隧道技术组合的双减速技术,挑战极限样品拍摄场景
高精度机械优中心样品台、超稳定性的机架减震设计,可搭配整体罩壳设计,极大减弱环境对极限分辨率的影响
最大支持8寸晶圆(最大直径208 mm)的快速换样仓,满足半导体和科研应用需求
应用案例
介孔二氧化硅/1 kV(Duo-Dec)/lnlens
阳极氧化铝板 /10 kV/Inlens
芯片/5 kV/BSED-COMP
肾脏切片 /5 kV/BSED-COMP
泡沫镍/2 kV/ETD-SE
蓝宝石衬底/5 kV/ETD-SE
金颗粒/1 kV/Inlens
光刻胶/2 kV/ETD-SE
磁性粉末/10 kV/Inlens
二氧化硅球/3 kV/ETD-SE
催化剂/1 kV/ETD-SE
波导/1 kV/ETD-SE
产品参数
关键参数 分辨率 0.6 nm @ 15 kV,SE
1.0 nm @ 1 kV,SE
加速电压 20 V ~ 30 kV
放大倍率 1 ~ 2,500,000 x
电子枪类型 肖特基场发射电子枪
样品室 摄像头 双摄像头(光学导航+样品仓内监控)
样品台行程

X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm

T: -10°~+70°,R: 360°

探测器和扩展 标配 镜筒内电子探测器(Inlens)
仓室内电子探测器(ETD)
选配 插入式背散射电子探测器(BSED)
插入式扫描透射探测器(STEM)
低真空二次电子探测器(LVD)
能谱仪(EDS)
背散射衍射(EBSD)
样品交换仓(4寸和8寸可选)
轨迹球&旋钮板
双减速技术(Duo-Dec)
软件 语言 中文
操作系统 Windows
导航 光学导航、手势快捷导航,轨迹球(选配)
图像记录 TIFF、JPG、PNG、BMP等
自动功能 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散等