SEM2000是一款基础款的多功能分析型钨灯丝扫描电镜。20 kV分辨率可以做到3.9 nm，支持升级30 kV电压，可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围，适用于快速筛选待测样品，更多的扩展接口，可搭载BSED、EDS等附件，使应用领域更广。
简洁的操作界面
*软件界面仅供参考
纯中文的操作界面
功能设计简单易操作。符合国人使用习惯，即使是新手用户，简单了解后也能快速上手。
完善的自动化功能
自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散，均可一键调节，提高工作效率。
丰富的测量工具
长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。
特色功能
光学导航
想看哪里点哪里，导航更轻松
标配光学导航摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。
防撞设计
对新手更友好的防碰撞设计，最大限度保护敏感单元。
一键成像
*软件一键成像，新手也能轻松驾驭。
分析距离
最佳分析距离和成像距离二合一，轻松体验优质性能。
多种信息同时成像
SEM2000软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。
分辨率指标
SE：3.9 nm @20 kV
BSE：4.5 nm @ 20 kV
丰富的扩展性
高灵敏度背散射探测器
· 多通道成像
探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。
四个单通道的阴影像
成分像
· 二次电子成像和背散射电子成像对比
背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。
铁矿石-（SE）
铁矿石-（BSE）
能谱
金属夹杂物能谱面扫分析结果。
电子背散射衍射
钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。 该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。
