【解决方案】“不止成像,更是解析”--国仪量子4D-STEM方案即将发布
四维扫描透射电子显微术(Four dimensional scanning transmission electron microscopy, 4D STEM)是电子显微学的最前沿方向之一。它通过在样品表面进行二维扫描,并利用像素化探测器同步记录每个扫描点的二维衍射花样,从而形成一个包含实空间与倒空间信息的四维数据块。这一技术不仅突破了传统电镜仅能采集单一散射信号的限制,更实现了对电子与样品相互作用全信号的捕获与解析。
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